導(dǎo)電硅橡膠應(yīng)用設(shè)計方面的考慮
除了電子元器件機殼和連接處的尺寸和形狀外,導(dǎo)電硅橡膠在應(yīng)用設(shè)計方面通常還要考慮下面幾個設(shè)計元素:
1、屏蔽效能
設(shè)計時應(yīng)考慮干擾源的強度和頻率,電場或磁場的主導(dǎo)地位及系統(tǒng)的功率和信號的衰減要求以及材料的一些特性和厚度要求。
2、閉合力
實體的導(dǎo)電硅橡膠材料可以很好的耐受較高的閉合力及環(huán)境壓力并滿足重復(fù)開啟和閉合要求。它是通過改變自身形狀而不是體積來適應(yīng)所受的壓力,從而達到密封的。所以在設(shè)計時就要考慮到實體導(dǎo)電硅橡膠在受熱或受壓情況下的形狀改變所需的潛在空間。因所需的密封要求不同,所需的閉合力的大小也會不同,例如僅需要電磁密封時,僅需要6磅/in的力即可,如果在電磁密封同時,還需要防水,則需要施加8磅/in的力才可能達到要求。另外如果施加較小的閉合力時,可采用橫截面積為中空的形狀的擠出導(dǎo)電膠條,如中空O形或者中空D形等,可以節(jié)約大量的原材料。
3、體積填充比
對于大多數(shù)靜態(tài)密封的應(yīng)用,必須要計算密封的體積和密封膠條將占用多少空間,以決定后者是否可以容納密封圈,所以體積填充比的設(shè)計就顯得非常重要。過填充和填充不足都可能使密封失敗。
4、壓縮量
壓縮量提供給設(shè)計人員一個不同形狀橫截面導(dǎo)電橡膠條的變形能力的定性比較。它是導(dǎo)電硅橡膠材料硬度和橫截面的形狀的函數(shù)。
5、電化學(xué)相容性
在設(shè)計密封膠條時,膠條與配合面間的電化學(xué)相容性也必須給予適當(dāng)?shù)闹匾?。能夠發(fā)生電化學(xué)腐蝕必須三個條件,缺一不可。它們是:一)兩種不同導(dǎo)電材料相互接觸或者導(dǎo)體聯(lián)接;二)它們之間存在著導(dǎo)電的環(huán)境,如電解溶液,鹽霧、水蒸汽等;三)兩種材料的電動勢差距大。只有這三個條件同時具備時才會發(fā)生電化學(xué)腐蝕,影響密封性能。另外,聚合物材料的滲透性也影響電化學(xué)腐蝕。由于限制了電解質(zhì)溶液浸入導(dǎo)電橡膠內(nèi),而防止了電化學(xué)腐蝕的發(fā)生。
6、其它
1) 在裝配過程中,避免拉伸導(dǎo)電膠條超過5%。因為拉伸過長,造成橡膠內(nèi)部的導(dǎo)電粒子之間不能導(dǎo)通形成足夠的導(dǎo)電通路,會影響導(dǎo)電性能,也就影響了膠條的屏蔽效能。
2) 如果存在剪切力時,則不要選用橫截面積為O形的導(dǎo)電橡膠條,應(yīng)選擇橫截面為D形、P形或者是C形。
3) 所用的導(dǎo)電橡膠條的壓縮永久變形越小越好,一般控制在30%以內(nèi)(以ASTM D395 method B)。
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